Leica LAS X EDOF inkl. Z-Kontrolle

LAS X Softwaremodul für Widefield-Systeme zur Kontrolle des motorisierten Z-Triebs automatisierter Mikroskope und des SuperZ Feinfokus. Zum Definieren von Fokus-Positionen und zur Aufnahme von Z-Bildstapeln.
LAS X Erweiterte Schärfentiefe (EDOF). Die EDOF-Funktion (Extended Depth of Field - erweiterte Schärfentiefe) fasst nur die im Fokus liegenden Bereiche jedes Bildes eines 3-dimensionalen Bilderstapels zusammen und erstellt aus diesen Daten ein einzelnes EDOF-Bild. EDOF kann sowohl online, während der Erstellung des Z-Stapels, als auch zur offline-Verarbeitung genutzt werden. EDOF ist für einzelne Z-Stapel mit 24-bit Farbbildern geeignet.