Zeiss Axio Vert.A1 für Materialien

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Produktbeschreibung
  • Überblick

    Mikrostrukturelle und strukturelle Analyse: Alles eine Frage des Kontrastes

    Mit Axio Vert.A1 untersuchen Sie große, schwere Proben mittels verschiedener klassischer und moderner Kontrastverfahren. Wechseln Sie im Auflicht zwischen Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C-DIC, Fluoreszenz und Polarisationskontrast. Nutzen Sie im Durchlicht Hellfeld, Polarisation und Phasenkontrast. Oder kombinieren Sie für maximalen Informationsgewinn mehrere Kontrastverfahren.

    Der kodierte Fünffach-Objektivrevolver erkennt einen Objektivwechsel automatisch. Die Verwendung des Lichtmanagers erlaubt die Speicherung und Wiederherstellung der Beleuchtungsintensität. Quantifizieren Sie überaus effizient Strukturen und beurteilen Sie Eigenschaften und Qualität Ihrer Werkstoffe. Gewinnen Sie wertvolle neue Einsichten und optimieren Sie Präparations- oder Produktionsprozesse. Und ergreifen Sie dann die richtigen Maßnahmen.

    Gerne beantworte ich Ihre Fragen auch persönlich

  • Highlights

    Schnelles Imaging mit einer breiten Objektivpalette

    Für Ihre Anwendungen benötigen Sie verschiedenste Objektive. Mit dem kodierten Fünffach-Objektivrevolver des Axio Vert.A1 haben Sie immer die passende Vergrößerung zur Hand. Sparen Sie Zeit und eliminieren Sie Fehlerquellen: Mit Hilfe der Kodierung erkennt Axio Vert.A1 automatisch das Objektiv.

    Kontrastverfahren für alle Details

    Axio Vert.A1 bietet alle gängigen Kontrastverfahren. Mit dem Vierfach-Reflektorrevolver wechseln Sie schnell und einfach im Auflicht zwischen Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C-DIC, Fluoreszenz und Polarisationskontrast. Dies erlaubt Ihnen die Untersuchung anisotroper Materialien wie Magnesium und Aluminium. Wechseln Sie zur Durchlichtbeleuchtung und arbeiten Sie mit Hellfeld, Polarisation oder Phasenkontrast.

    Reproduzierbares Messen und Vergleichen

    Nutzen Sie Fadenkreuze und Strukturvergleichsplatten zum Messen und Zählen. Zusätzlich hält die AxioVision Software von Carl Zeiss ein leistungsfähiges Spektrum von Modulen zur Analyse der Korngröße, der Phasen und der Schichtdicke sowie weitere interaktive Messfunktionen für Ihre Untersuchungen bereit.

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  • Artikelnummer

    431030-9020-000