Zeiss Stemi 305 mit Auflichtbasis

Zeiss Stemi 305 mit Auflichtbasis – Robustes und kompaktes Greenough-Mikroskop für zuverlässige Analysen in der Industrie

Das Zeiss Stemi 305 mit Auflichtbasis eignet sich hervorragend für Qualitätskontrollen und Inspektionen, sowie Fehleranalysen in der Industrie. Das kompakte und robuste Design ist optimal für hohe Belastungen ausgelegt: In Kombination mit der benutzerfreundlichen Mechanik profitieren Sie von zuverlässigen und präzisen Analysen. Mikroskopieren Sie kleine bis mittelgroße Proben, wie Platinen oder Medizinprodukte, mit der herausragenden Zeiss Optik. Der stufenlose Zoom macht das Analysieren Ihrer Proben noch einfacher. Durch das große Angebot an Zubehör können Sie das Zeiss Stemi 305 ganz individuell an Ihre Anwendungsbedürfnisse anpassen.

Gerne beantworte ich Ihre Fragen auch persönlich

Dr. Marcel Hinz

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